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歸一化植被指數(NDVI)測量儀-冠層尺度測量
歸一化植被指數(NDVI)測量儀可在近地面對冠層歸一化植被指數（NDVI）進行長期定位監測。NDVI對綠色植被反應敏感，常被用于研究植被的生長狀態。NDVI測量儀傳感器制作工藝考究、堅固耐用，可在各種惡劣天氣條件下正常工作；其體積小巧，安裝簡易方便；性價比高，可在多處布點。
工作原理
NDVI是由冠層對近紅外波長（810nm）的反射率與紅光波長（650nm）的反射率之差比上兩者之和計算得到，因此需同時安裝向上和向下兩個傳感器來監測冠層對這兩個波長的反射率。
向上的NDVI傳感器檢測810nm和650nm的光照強度。測量結果代表了來自天空的入射光強度。傳感器經過余弦校正，具有半球視場。安裝時須保證視場內只有天空，沒有冠層和其他地物。
NDVI傳感器也是檢測810nm和650nm的光照強度。測量結果代表了來自冠層的反射光強度。傳感器的視野范圍被限定在30°以內，這種限定使得傳感器可以準確朝向待測冠層。
產品特點
耗電量低
性價比高
支持SDI-12通訊協議
自動測量、收集數據，校準信息保存在傳感器內
環氧樹脂密封工藝，防水，耐受惡劣天氣，可在野外長期布設
若使用ZL6數據采集器，可通過互聯網終端實現遠程數據查看和下載
應用領域
單株植物或群落冠層的歸一化植被指數（NDVI）動態監測
監測植被返青、衰老和受脅迫狀態
冠層有效輻射截獲量
冠層生長物候監測
冠層葉面積指數
冠層生物量積累
技術參數
| 校準系數（靈敏度的倒數） | 逐個傳感器校準，數據存儲在固件中 |
| 校準不確定性 | ± 5 % |
| 波長范圍 | 紅光檢測器650 nm ± 5 nm；半峰寬（FWHM）65 nm；NIR檢測器 810 nm ± 5 nm；半峰寬（FWHM）65 nm |
| 測量范圍 | 2倍全日照 |
| 測量重復性 | < 1 % |
| 長期漂移 | 每年< 2 % |
| 響應時間 | < 0.6 s |
| 視場范圍 | 向上180°，向下30° |
| 方向（余弦）響應 | ± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天頂角 |
| 溫度響應 | < 0.1 % 每 ℃ |
| 輸出 | SDI-12 |
| 供電 | 5.5 ~ 24 V DC |
| 外殼 | 帶有丙烯酸散射窗的陽極鋁 |
| IP 防護 | IP68 |
| 工作環境 | -40 ~ 70 ℃; 0 ~ 100 % RH |
| 尺寸 | S2-411-SS（向上）：直徑 30.5 mm, 高37 mm S2-412-SS（向下）：直徑 30.5 mm, 高34.5 m |
| 重量（包含5米纜線） | 140 g |
| 纜線 | 5米屏蔽雙絞線；TPR護套和不銹鋼接口 |
| 兼容數采（須另購） | METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific |
訂購指南
傳感器： S2-411-SS向上半球視野傳感器，S2-412-SS向下視場光闌傳感器
數采：ZL6數據采集器。
另有PRI光化學反射指數傳感器可選購。
相關產品
歸一化植被指數(NDVI)測量儀
產地與廠家：美國METER公司
歸一化植被指數(NDVI)測量儀-冠層尺度測量
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